探針的主要類型
信息來源于:互聯(lián)網(wǎng) 發(fā)布于:2024-06-22
探針是電子測試和測量中使用的一種精密工具,用于與電子元件的接觸點建立電氣連接。以下是一些主要類型的探針:
針尖探針(Point Probe):最基本的探針類型,具有尖銳的金屬尖端,適用于一般的電路測試。
鉤形探針(Hook Probe):鉤形設(shè)計使其可以輕松地連接到測試點上,常用于電路板的測試。
屏蔽探針(Shielded Probe):帶有屏蔽層的探針,可以減少電磁干擾,適用于高頻信號的測量。
同軸探針(Coaxial Probe):同軸電纜設(shè)計,具有較寬的頻率范圍和良好的信號完整性,適用于射頻測量。
電流探針(Current Probe):用于測量電流,通常通過感應(yīng)電流產(chǎn)生的磁場來工作。
高壓探針(High Voltage Probe):特殊設(shè)計以承受高電壓,適用于高壓測試環(huán)境。
微探針(Micro Probe):非常細(xì)小的探針,適用于精密的電子元件和密集的電路板。
彈簧探針(Spring Probe):帶有彈簧機(jī)制的探針,可以提供穩(wěn)定的接觸力和良好的重復(fù)性。
測試插座探針(Test Socket Probe):用于集成電路測試插座,允許對IC引腳進(jìn)行測試。
BGA探針(Ball Grid Array Probe):專為BGA封裝的集成電路設(shè)計,用于接觸BGA焊點。
射頻同軸探針(RF Coaxial Probe):用于射頻應(yīng)用,具有較低的回?fù)p和駐波比。
差分探針(Differential Probe):用于測量差分信號,可以同時捕捉兩個互補的信號。
邏輯探針(Logic Probe):用于邏輯分析,可以顯示高低電平狀態(tài)。
溫度探針(Thermal Probe):用于測量溫度,通常與溫度計或數(shù)據(jù)記錄器配合使用。
光纖探針(Fiber Optic Probe):用于光纖通信測試,可以測量光信號。
每種探針類型都有其特定的應(yīng)用場景和優(yōu)勢,工程師會根據(jù)測試需求選擇合適的探針類